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影響電壓擊穿試驗(yàn)儀因素

點(diǎn)擊次數(shù):2025  更新時(shí)間:2013-06-18

 

 

                                               ☆  電壓擊穿試驗(yàn)儀要安裝單獨(dú)的保護(hù)地線。接保護(hù)地線,主要是減少試樣擊穿時(shí)對(duì)周圍產(chǎn)生的較強(qiáng)的電磁干擾。也可避免控制計(jì)算機(jī)失控。該試驗(yàn)設(shè)備的電路設(shè)有多項(xiàng)保護(hù)措施,主要有:過流保護(hù)、失壓保護(hù)、漏電保護(hù)、短路保護(hù)、直流試驗(yàn)放電報(bào)警等。在設(shè)備做完直流試驗(yàn)時(shí),當(dāng)開啟試驗(yàn)門時(shí)設(shè)備會(huì)自動(dòng)報(bào)警,直至使用設(shè)備上的放電裝置放電后報(bào)警會(huì)自動(dòng)取消。

                 影響電壓擊穿試驗(yàn)儀的主要因素,下面介紹其中幾種主要的影響因素。

                           ☆1、頻率 

 

     在電擊穿區(qū)域內(nèi),如果頻率的變化不造成電場(chǎng)均勻度的改變,則擊穿電壓與頻率幾乎無關(guān)。在熱擊穿區(qū)域內(nèi),如果頻率使和變化不大,則擊穿電壓將與頻率的平方根成反比。如厚度為的玻璃,在工頻時(shí)的擊穿電壓為(有效值),而在高頻時(shí)擊穿電壓僅為(有效值)。這事因?yàn)轭l率上升介質(zhì)損耗上升,導(dǎo)致發(fā)熱,促使熱擊穿過程的發(fā)展

  
                        ☆2、電場(chǎng)均勻程度和介質(zhì)的厚度

  
處于均勻電場(chǎng)中的固體介質(zhì),其擊穿電壓往往較高,且隨介質(zhì)厚度的增加近似地成線性增大若在不均勻電場(chǎng)中,介質(zhì)厚度增加將使電場(chǎng)更不均勻,于是擊穿電壓不再隨厚度的增加而線性上升。當(dāng)厚度增加使散熱困難到可能引起熱擊穿時(shí),增加厚度的意義就更小了。

常用的固體介質(zhì)一般都含有雜質(zhì)和氣隙,這時(shí)即使處于均勻電場(chǎng)中,介質(zhì)內(nèi)部的電場(chǎng)分布也是不均勻的,zui大電場(chǎng)強(qiáng)度集中在氣隙處,使擊穿電壓下降。如果經(jīng)過真空干燥、真空浸油或浸漆處理,則擊穿電壓可明顯提高。

                                ☆3、電壓作用時(shí)間

 

  
如果電壓作用時(shí)間很短,固體介質(zhì)的擊穿往往是電擊穿,擊穿電壓當(dāng)然也較高。隨著電壓作用時(shí)間的增長,擊穿電壓將下降,如果在加電壓后數(shù)小時(shí)才引起擊穿,則熱擊穿往往起主要作用。不過二者有時(shí)很難分清,例如在工頻交流耐壓試驗(yàn)中的試品被擊穿,常常是電和熱雙重作用的結(jié)果。電壓作用時(shí)間長達(dá)數(shù)十小時(shí)甚至幾年才發(fā)生擊穿時(shí),大多屬于電化學(xué)擊穿的范疇。不過擊穿電壓與更長時(shí)間的擊穿電壓相差已不太大,所以通常可將頻試驗(yàn)電壓作為基礎(chǔ)來估計(jì)固體介質(zhì)在工頻電壓作用下長期工作時(shí)的熱擊穿電壓。許多有機(jī)絕緣材料的短時(shí)間電氣強(qiáng)度很高,但它們耐局部放電的性能往往很差,以致長時(shí)間電氣強(qiáng)度很低,這一點(diǎn)必須予以重視。在那些不可能用油浸等方法來消除局部放電的絕緣結(jié)構(gòu)中(例如旋轉(zhuǎn)電機(jī)),就必須采用云母等耐局部放電性能好的無機(jī)絕緣材料。

 

 

標(biāo)簽:電壓擊穿試驗(yàn)儀,介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀,體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀,漏電起痕試驗(yàn)儀,耐電痕化指數(shù)試驗(yàn)儀,水平垂直燃燒試驗(yàn)儀,海綿泡沫落球回彈試驗(yàn)儀,海綿泡沫壓陷硬度試驗(yàn)儀

 

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